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日本NF電子測(cè)試儀器

頻率特性分析儀直流電源 NF信號(hào)發(fā)生器小型LCR測(cè)試儀

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日本NF頻率特性分析儀

日本NF頻率特性分析儀介紹：
從電子電路、電子零件/材料到機(jī)電一體化/電化學(xué)，可覆蓋廣泛領(lǐng)域的頻率特性測(cè)量。具備各領(lǐng)域所需的性能/功能，提供再現(xiàn)性高的測(cè)量數(shù)據(jù)，推進(jìn)測(cè)量作業(yè)的效率提升。FRA51615采納本公司FRA在用客戶的意見，在各個(gè)細(xì)節(jié)之處追求使用便利性。

產(chǎn)品型號(hào)：FRA51615
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2024-07-01
訪問量：2887

立即咨詢

聯(lián)系電話：021-51087863

產(chǎn)品詳情

日本NF頻率特性分析儀介紹：

FRA51615頻率特性分析儀在被測(cè)定物上施加正弦波信號(hào)，求出其頻率響應(yīng)特性的裝置，因?yàn)闇y(cè)量的動(dòng)態(tài)量程非常寬闊，所以不但能夠進(jìn)行高精度的測(cè)量，而且具有可以測(cè)量超低頻率等特長(zhǎng)。

要想高精度地測(cè)試頻率特性、請(qǐng)選擇NF的FRA

環(huán)路特性伺服特性傳輸特性阻抗導(dǎo)納 PSRR

PLL響應(yīng)特性振動(dòng)傳遞特性電化學(xué)阻抗（EIS）

從逆變器/無線供電等電力電子工程、到伺服控制、
電子零件/電池的評(píng)估、生物技術(shù)研究

根據(jù)各種頻率特性測(cè)試用途，大幅提升性能/功能/可操作性！

•	測(cè)試頻率范圍
	10 μHz ∼ 15 MHz

•	測(cè)試速度
	0.5 ms/point

•	基本準(zhǔn)確度
	增益 ±0.01 dB 相位 ±0.06°

•	隔離 / 大輸入電壓
	600 V CAT Ⅱ / 300 V CAT Ⅲ

•	大測(cè)試電壓
	600 Vrms

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順序測(cè)試

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標(biāo)記搜索功能

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群延時(shí)測(cè)試

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頻率變化時(shí)相位控制

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負(fù)載校正

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端口延長(zhǎng)功能

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電位梯度消除功能

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外部標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘等

增益·相位分析儀 FRA51602

轉(zhuǎn)換器·開關(guān)電源的環(huán)路增益測(cè)試

•

測(cè)量頻率 10μHz∼2MHz

•

大輸入電壓?隔離 600V CATⅡ/300V CATⅢ

實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)試的可靠規(guī)格&功能

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測(cè)試頻率 10 μHz ∼ 15 MHz

從 10 μHz 的低頻到 15 MHz 實(shí)現(xiàn)全覆蓋。分辨率也提高到 10 μHz 。支持電化學(xué)阻抗測(cè)試所需的超低頻。

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測(cè)試速度 0.5 ms/point

掃描速度 0.5 ms/point。可幫助縮短生產(chǎn)線上的節(jié)拍時(shí)間。

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基本準(zhǔn)確度增益 ±0.01 dB, 相位 ±0.06°

通過數(shù)字傅立葉計(jì)算方法與自校準(zhǔn)功能，隨時(shí)進(jìn)行高精度測(cè)試。與原來型號(hào)相比，增益 / 相位的準(zhǔn)確度均有所提升。

* 準(zhǔn)確度根據(jù)測(cè)試條件而不同。

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動(dòng)態(tài)量程 140 dB

通過高分辨率 A/D 轉(zhuǎn)換器和對(duì)每個(gè)測(cè)試頻率點(diǎn)分別進(jìn)行量程優(yōu)化的自動(dòng)切換量程功能，確保較大的動(dòng)態(tài)量程。對(duì)于測(cè)試過程中發(fā)生的變化，也能準(zhǔn)確地測(cè)試出來。

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隔離電壓 600 V CAT Ⅱ ／ 300 V CAT Ⅲ

振蕩器輸出（OSC）與 2 個(gè)分析輸入（CH1/ CH2）在機(jī)殼與端子間相互被隔離，額定絕緣為 600V CATⅡ 或 300V CATⅢ。
高壓電需求增大的逆變器和 PFC 回路等以電源回路的環(huán)路 / 增益測(cè)試為首，其應(yīng)用范圍越來越大。

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自動(dòng)切換量程

追隨輸入信號(hào)的電平，設(shè)定量程后再進(jìn)行測(cè)試。如檢測(cè)到超出量程的噪聲，則自動(dòng)設(shè)定大的量程進(jìn)行重新測(cè)試。測(cè)試數(shù)據(jù)成為未出現(xiàn)量程飽和的數(shù)據(jù)。為消除隨著量程變化而出現(xiàn)的測(cè)試值不連續(xù)，也可選擇固定量程。

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自動(dòng)高密度掃描

支持 20,000 點(diǎn)的高密度測(cè)試，僅針對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)急劇變化的區(qū)間，自動(dòng)提高頻率密度進(jìn)行測(cè)試。

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振幅壓縮功能

為防止被測(cè)試系統(tǒng)的飽和或破損，對(duì)振蕩器的電平進(jìn)行控制，以使被測(cè)試系統(tǒng)的振幅水平保持穩(wěn)定。

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積分功能

消除噪聲影響進(jìn)行測(cè)試的數(shù)據(jù)積分功能。重復(fù)測(cè)試期間按循環(huán)數(shù)或時(shí)間進(jìn)行設(shè)定。

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自動(dòng)積分功能

進(jìn)行反復(fù)積分、直至噪聲引起的測(cè)試波動(dòng)成分達(dá)到設(shè)定值以下的功能。

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延時(shí)功能

為減輕由于頻率改變時(shí)的瞬態(tài)響應(yīng)而引起的誤差，將時(shí)間延時(shí)至測(cè)試開始的功能。還追加了僅在掃描或開始當(dāng)場(chǎng)測(cè)試時(shí)，將時(shí)間延時(shí)至測(cè)試開始的功能。

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微分 / 積分運(yùn)算功能

在測(cè)試數(shù)據(jù)的時(shí)間區(qū)域里進(jìn)行微分／二次微分／積分／二次積分的功能。對(duì)于來自加速度傳感器和激光多普勒振動(dòng)計(jì)的信號(hào)，在掃描的同時(shí)進(jìn)行運(yùn)算，變換成位移／速度／加速度并顯示。

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接口 GPIB，USB，LAN，RS-232，VGA

標(biāo)準(zhǔn)配備 GPIB, USB, LAN, RS-232 接口。可構(gòu)建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。
另外，在背面配備了 VGA 連接器作為外部顯示器。關(guān)于其他輸出連接器等，請(qǐng)參閱右側(cè)的背面照片。

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測(cè)試作業(yè)的效率UP!

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順序測(cè)試

對(duì)于設(shè)定存儲(chǔ)的內(nèi)容，按照編號(hào)順序讀出并掃描測(cè)試的功能。對(duì)于一個(gè)掃描，可將頻率范圍多分割成 20 個(gè)部分，在各自的頻率范圍內(nèi)分別按不同的振幅、積分設(shè)定等進(jìn)行測(cè)試。濾波器和壓電元件等想要高密度地測(cè)試特定的頻率范圍時(shí)，多層陶瓷電容器（MLCC）、電感器和變壓器等具有偏壓依存性的零部件的測(cè)試等較為方便。

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濾波器的通帶測(cè)試
僅必要頻率范圍的測(cè)試

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MLCC的電容測(cè)試
在相同頻率范圍內(nèi)，改變測(cè)試條件進(jìn)行測(cè)試

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標(biāo)記搜索功能

除讓標(biāo)記移動(dòng)并讀取數(shù)值外，還可自動(dòng)搜索符合設(shè)定條件的點(diǎn)。

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群延時(shí)測(cè)試

可顯示用于濾波器等電子電路波形再現(xiàn)性評(píng)價(jià)的群延時(shí)（GD： Group Delay，用角頻率對(duì)輸入輸出間的相位進(jìn)行微分）。

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頻率變化時(shí)相位控制

在振蕩器輸出信號(hào)的相位為 0°時(shí)改變頻率。由此，從頻率掃描開始到結(jié)束期間的直流成分變?yōu)榱悖陔姵氐淖杩箿y(cè)試中，充放電狀態(tài)不發(fā)生變化。另外，在高通濾波器（HPF）的頻率特性測(cè)試中，不會(huì)由于直流而產(chǎn)生瞬態(tài)響應(yīng)。

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誤差校正

開路校正／短路校正／負(fù)載校正，端口延長(zhǎng)功能，電位梯度消除功能，補(bǔ)償

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開路校正／短路校正

開路時(shí)通過浮動(dòng)導(dǎo)納、短路時(shí)通過殘余阻抗校正測(cè)試誤差。（阻抗測(cè)試）

•

負(fù)載校正

將已知數(shù)值的樣品作為標(biāo)準(zhǔn)阻抗來校正誤差。（阻抗測(cè)試）

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端口延長(zhǎng)功能

在使用較長(zhǎng)電纜時(shí)校正因傳輸延時(shí)引起的誤差。（阻抗測(cè)試）

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電位梯度消除功能

假定測(cè)試信號(hào)是由正弦波和鋸齒波（電位變動(dòng)波形）構(gòu)成的，分別測(cè)出正弦波與鋸齒波各自的大小與相位。消除由于電池等充放電造成的電位變化的影響。
（阻抗測(cè)試）

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補(bǔ)償

對(duì)于連接到外部的傳感器和電纜等測(cè)試系統(tǒng)的頻率特性
進(jìn)行預(yù)先測(cè)試，校正測(cè)試系統(tǒng)的誤差成分。
（增益 / 相位測(cè)試）

* 在各個(gè)（）內(nèi)的測(cè)試中使用的校正功能。

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圖表顯示

•	SPLIT 顯示
	可選擇在 1 個(gè)畫面上顯示 1 個(gè)圖表的“SINGLE”和上下顯示2 個(gè)圖表的“SPLIT”。

•	數(shù)據(jù)跡線
	可覆蓋參考數(shù)據(jù)跡線（REF）和測(cè)試數(shù)據(jù)跡線（MEAS）。

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